Informacje ogólne

Skanowanie z większym współczynnikiem pitch


Taka szybkość pokrycia jest równoważna szerszym detektorom (50-warstwowym) przy tej samej szybkości stołu.1

1. Wskaźnik artefaktu spiralnego definiuje się jako: ((wartość SD przy ROI1))2 - ((wartość SD przy ROI2)^2))1/2. W celu obliczenia wskaźnika artefaktu spiralnego dokonano akwizycji dwóch spiralnych zestawów danych.  Obie akwizycje spiralne wykonano przy użyciu wartości kV: 120, obrót gantry:0,8 s, grubość warstwy:1,25 mm, SFOV:  duże, DFOV:DFOV: 32 cm, początek/koniec:S200-I370 i rekonstrukcja z użyciem matrycy 512.  Jeden zestaw danych uzyskano przy wartości pitch 1,75:1 i prędkości stołu 37,5 mm na obrót, z włączeniem funkcji IQ Enhance przy 260 mA, a drugi przy pitch 0,562:1 i prędkości stołu 11,25 mm na obrót, z wyłączeniem funkcji IQ Enhance przy 160 mA.

Zaletys

Skanowanie z szybkością odpowiadającą TK 50-warstwowej

Technologia IQ Enhance zapewnia następujące możliwości:

  • Redukcja wskaźnika artefaktu spiralnego w cienkowarstwowym skanowaniu spiralnym. Taka redukcja artefaktów umożliwia skanowanie z większym współczynnikiem pitch spirali.1
  • Zwiększenie skoku spirali nawet o 70% (np. z 0,562 do 1,75 przy 16 warstwach) przy takim samym poziomie wskaźnika artefaktów.1

1. Wskaźnik artefaktu spiralnego definiuje się jako: ((wartość SD przy ROI1)2 - (wartość SD przy ROI2)^2)1/2. W celu obliczenia wskaźnika artefaktu spiralnego dokonano akwizycji dwóch spiralnych zestawów danych. Obie akwizycje spiralne wykonano przy użyciu wartości kV: 120, obrót gantry: 0,8 s, grubość warstwy: 1,25 mm, SFOV: duże, DFOV:32 cm, początek/koniec: S200-I370 i rekonstrukcja z użyciem matrycy 512. Jeden zestaw danych uzyskano przy wartości pitch 1,75:1 i prędkości stołu 37,5 mm na obrót, z włączeniem funkcji IQ Enhance przy 260 mA, a drugi przy pitch 0,562:1 i prędkości stołu 11,25 mm na obrót, z wyłączeniem funkcji IQ Enhance przy 160 mA.